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闡述環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的檢測標(biāo)準(zhǔn)
日期：2025-07-06 09:49
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摘要：
闡述環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的檢測標(biāo)準(zhǔn)
環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備有：可程式恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)，高低溫試驗(yàn)機(jī)，冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)，鹽霧測試機(jī)，耐黃變試驗(yàn)機(jī)，老化試驗(yàn)機(jī)，淋雨試驗(yàn)機(jī)，紫外線耐氣候試驗(yàn)機(jī)，烤箱等。m.lzs-ds.com
一、 概況
環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備設(shè)計(jì)、生產(chǎn)的依據(jù)是環(huán)境試驗(yàn)方法，隨著生產(chǎn)力的進(jìn)步、國民經(jīng)濟(jì)的發(fā)展，環(huán)境試驗(yàn)方法的日臻豐富，相應(yīng)的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備亦隨之日益增多。為了使環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芸煽?、持續(xù)地得到實(shí)施，這就需要有質(zhì)量上乘，性能合格的試驗(yàn)設(shè)備，而要達(dá)到這一要求，就需有一個(gè)統(tǒng)一衡量試驗(yàn)設(shè)備尺度即環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)，以及環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定標(biāo)準(zhǔn)。
二、 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)
1、現(xiàn)行環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)共有九項(xiàng)：
GB10586-89 濕熱試驗(yàn)箱 技術(shù)條件
GB10587-89 鹽霧試驗(yàn)箱 技術(shù)條件
GB10588-89 長霉試驗(yàn)箱 技術(shù)條件
GB10589-89 低溫試驗(yàn)箱 技術(shù)條件
GB10590-89 低溫/低氣壓試驗(yàn)箱 技術(shù)條件
GB10591-89 高溫/低氣壓試驗(yàn)箱 技術(shù)條件
GB10592-89 高、低溫試驗(yàn)箱 技術(shù)條件
GB11158-89 高溫試驗(yàn)箱 技術(shù)條件
GB11159-89 低氣壓試驗(yàn)箱 技術(shù)條件
2、設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)中的共性問題
1)適用范圍
在上述的九項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)中都明確規(guī)定了本標(biāo)準(zhǔn)適用于生產(chǎn)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的所有廠家，對該標(biāo)準(zhǔn)所對應(yīng)的產(chǎn)品在作出廠檢驗(yàn)、型式檢驗(yàn)、質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)時(shí)作為依據(jù)。
2)適應(yīng)性
按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)檢測合格的產(chǎn)品，其性能要符合相對應(yīng)的環(huán)境試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)中對試驗(yàn)設(shè)備的要求，按其檢驗(yàn)要求檢測合格的產(chǎn)品方可出廠。
3)操作性
設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)在貫徹實(shí)施過程中基本能得到貫徹執(zhí)行。同時(shí)，該類標(biāo)準(zhǔn)在設(shè)備制造廠也應(yīng)用較多。
4)修訂設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)的不足之處
九項(xiàng)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)起草于上世紀(jì)八十年代，隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，工農(nóng)業(yè)及其他待業(yè)的發(fā)展和需求，修訂設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)是必須的。
3、貫徹執(zhí)行過程中的注意事項(xiàng)
1)對基本環(huán)境條件的要求，綜合在一起主要有下列幾項(xiàng)
A)溫度：15℃~35℃
B)相對濕度：不大于85%RH
C)大氣壓強(qiáng)：86Kpa~106Kpa
D)熱輻射：無陽光起直射，無熱源直接輻射
E)氣流：無強(qiáng)烈氣流，需要時(shí)不可直接吹到箱體上
F)電磁場：無強(qiáng)烈電磁場
G)三廢：無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)
H)冷卻水源：水溫不大于30℃，水壓控制在0.1~0.3Mpa
I)加濕水源：電阻率不低于500Ωm
J)電源：220±22V 、380±38V、50±0.5Hz
2)負(fù)載要求：
A)負(fù)載品種：一般可用電工、電子產(chǎn)品或其它產(chǎn)品、零部件及絕緣材料等(鹽霧試驗(yàn)除外)
B)負(fù)載條件：
-------負(fù)載總質(zhì)量：50~80Kg/m3
-------負(fù)載總體積：不大于工作室容積的1/5
-------阻擋主風(fēng)道總面積：不大于主風(fēng)道所處工作室截面積的1/3
-------鹽霧試驗(yàn)設(shè)備：規(guī)格：50＊100＊(1~2)mm
-------種類：金屬
-------樣品數(shù)：160塊/m2(工作室水平面面積計(jì))
三、 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)(氣候試驗(yàn)設(shè)備)
1、現(xiàn)行環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)共有六項(xiàng)：
GB/T5170.2----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.5----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.8----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.9----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.10---1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.11---1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備
2、方法標(biāo)準(zhǔn)的幾個(gè)共同問題
1)標(biāo)準(zhǔn)適用范圍：在六項(xiàng)方法標(biāo)準(zhǔn)中明確規(guī)定了該類標(biāo)準(zhǔn)是環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備在進(jìn)行周期檢定時(shí)檢定項(xiàng)目的確定，檢測儀器的選用，以及檢定條件、測試點(diǎn)數(shù)量、布點(diǎn)位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容的執(zhí)行依據(jù)。
2)適應(yīng)性：按方法標(biāo)準(zhǔn)檢測合格的設(shè)備，可在規(guī)定期限內(nèi)繼續(xù)進(jìn)行相關(guān)的環(huán)境試驗(yàn)。
3)操作性：本類標(biāo)準(zhǔn)在環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備使用單位應(yīng)用居多，試驗(yàn)設(shè)備生產(chǎn)廠應(yīng)用為少。
3、貫徹執(zhí)行過程中的幾個(gè)注意點(diǎn)：
1)各分標(biāo)準(zhǔn)使用時(shí)應(yīng)與總則一起使用。
2)對于復(fù)合試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定要若干分標(biāo)準(zhǔn)及總則一起使用
3)檢定條件：由總則規(guī)定，其內(nèi)容與設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)相一致。
4)負(fù)載要求：由總則規(guī)定，其內(nèi)容按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)GB11158中規(guī)定保持一致。
四、設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)與檢定方法標(biāo)準(zhǔn)差異辨析
有三項(xiàng)要求(鹽霧試驗(yàn)箱例外)
按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)GB11158中的規(guī)定
檢驗(yàn)項(xiàng)目：對生產(chǎn)好的產(chǎn)品進(jìn)行綜合性能檢驗(yàn)(包括標(biāo)志、包裝、儲(chǔ)存)
按試驗(yàn)方法要求對試驗(yàn)設(shè)備進(jìn)行檢驗(yàn)
受檢對象：
生產(chǎn)線上裝配、調(diào)試完成后的產(chǎn)品，外形、結(jié)構(gòu)、標(biāo)志完好控制系統(tǒng)無明顯缺陷、控制精度符合要求**裝置功能正常
檢驗(yàn)類型：
型式檢驗(yàn)、出廠檢驗(yàn)、仲裁檢周期檢驗(yàn)
檢驗(yàn)結(jié)果分類：
合格、不合格、批合格、批不合格
合格、準(zhǔn)用、停用
結(jié)果處理：
合格出廠、不合格不準(zhǔn)出廠批不合格、逐臺檢驗(yàn)質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)，合格續(xù)產(chǎn)不合格停產(chǎn)整頓
合格—發(fā)合格證(或部分合格限使用范圍)
準(zhǔn)用—發(fā)準(zhǔn)用證
停用—發(fā)停用證
五、設(shè)備極其參數(shù)檢定標(biāo)準(zhǔn)與試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)的對應(yīng)選擇
1、根據(jù)受試產(chǎn)品規(guī)定的試驗(yàn)方法確定環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的種類，現(xiàn)行設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)是一種產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)對應(yīng)一類設(shè)備，可作多種試驗(yàn)的復(fù)合試驗(yàn)箱需執(zhí)行多個(gè)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)。
2、根據(jù)試驗(yàn)方法要求，對設(shè)備進(jìn)行周期檢定時(shí)，可選用一個(gè)或多個(gè)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)對試驗(yàn)設(shè)備進(jìn)行檢定。
3、幾種常用的不同試驗(yàn)方法所需設(shè)備的檢定方法標(biāo)準(zhǔn)
GB2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫
GB5170.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB2423.電工電子產(chǎn)品環(huán)境第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫
GB2423.22電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法
GB2423.3電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ca：恒定濕熱
GB5170.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備
GB2423.4電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db：交變濕熱
GB2423.9電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cb：設(shè)備用恒定濕熱
GB2423.16電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)J：長霉
GB2423.17電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ka：鹽霧
GB5170.8電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備
GB2423.18電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Kb：交變鹽霧
GB2423.19電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法 Kc：接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)
GB5170.11電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法
腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備
GB2423.20電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法 Kd：接觸點(diǎn)和連接件硫件氫試驗(yàn)方法
六、 進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)過程中的幾個(gè)注意點(diǎn)
1、合理選擇設(shè)備溫濕度范圍及控制精度
2、注意受試品的體積、重量及擋風(fēng)橫截對設(shè)備主性能的影響
3、設(shè)備安置場所環(huán)境條件
4、適當(dāng)選擇試驗(yàn)的嚴(yán)酷度
七、 結(jié)束語
通過對環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)及電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)的初步分析，兩類標(biāo)準(zhǔn)各自有其獨(dú)立性，但相互之間又具有一定的關(guān)聯(lián)性。因此，準(zhǔn)確理解兩類標(biāo)準(zhǔn)的適用范圍，熟悉兩類標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)內(nèi)容的根本差異，是我們準(zhǔn)確貫徹、切實(shí)執(zhí)行兩類標(biāo)準(zhǔn)的前提。愿我們在今后的事業(yè)中為貫徹執(zhí)行好這兩類標(biāo)準(zhǔn)而共同努力。
環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備有：可程式恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)，高低溫試驗(yàn)機(jī)，冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)，鹽霧測試機(jī)，耐黃變試驗(yàn)機(jī)，老化試驗(yàn)機(jī)，淋雨試驗(yàn)機(jī)，紫外線耐氣候試驗(yàn)機(jī)，烤箱等。m.lzs-ds.com
一、 概況
環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備設(shè)計(jì)、生產(chǎn)的依據(jù)是環(huán)境試驗(yàn)方法，隨著生產(chǎn)力的進(jìn)步、國民經(jīng)濟(jì)的發(fā)展，環(huán)境試驗(yàn)方法的日臻豐富，相應(yīng)的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備亦隨之日益增多。為了使環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芸煽?、持續(xù)地得到實(shí)施，這就需要有質(zhì)量上乘，性能合格的試驗(yàn)設(shè)備，而要達(dá)到這一要求，就需有一個(gè)統(tǒng)一衡量試驗(yàn)設(shè)備尺度即環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)，以及環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定標(biāo)準(zhǔn)。
二、 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)
1、現(xiàn)行環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)共有九項(xiàng)：
GB10586-89 濕熱試驗(yàn)箱 技術(shù)條件
GB10587-89 鹽霧試驗(yàn)箱 技術(shù)條件
GB10588-89 長霉試驗(yàn)箱 技術(shù)條件
GB10589-89 低溫試驗(yàn)箱 技術(shù)條件
GB10590-89 低溫/低氣壓試驗(yàn)箱 技術(shù)條件
GB10591-89 高溫/低氣壓試驗(yàn)箱 技術(shù)條件
GB10592-89 高、低溫試驗(yàn)箱 技術(shù)條件
GB11158-89 高溫試驗(yàn)箱 技術(shù)條件
GB11159-89 低氣壓試驗(yàn)箱 技術(shù)條件
2、設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)中的共性問題
1)適用范圍
在上述的九項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)中都明確規(guī)定了本標(biāo)準(zhǔn)適用于生產(chǎn)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的所有廠家，對該標(biāo)準(zhǔn)所對應(yīng)的產(chǎn)品在作出廠檢驗(yàn)、型式檢驗(yàn)、質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)時(shí)作為依據(jù)。
2)適應(yīng)性
按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)檢測合格的產(chǎn)品，其性能要符合相對應(yīng)的環(huán)境試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)中對試驗(yàn)設(shè)備的要求，按其檢驗(yàn)要求檢測合格的產(chǎn)品方可出廠。
3)操作性
設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)在貫徹實(shí)施過程中基本能得到貫徹執(zhí)行。同時(shí)，該類標(biāo)準(zhǔn)在設(shè)備制造廠也應(yīng)用較多。
4)修訂設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)的不足之處
九項(xiàng)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)起草于上世紀(jì)八十年代，隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，工農(nóng)業(yè)及其他待業(yè)的發(fā)展和需求，修訂設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)是必須的。
3、貫徹執(zhí)行過程中的注意事項(xiàng)
1)對基本環(huán)境條件的要求，綜合在一起主要有下列幾項(xiàng)
A)溫度：15℃~35℃
B)相對濕度：不大于85%RH
C)大氣壓強(qiáng)：86Kpa~106Kpa
D)熱輻射：無陽光起直射，無熱源直接輻射
E)氣流：無強(qiáng)烈氣流，需要時(shí)不可直接吹到箱體上
F)電磁場：無強(qiáng)烈電磁場
G)三廢：無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)
H)冷卻水源：水溫不大于30℃，水壓控制在0.1~0.3Mpa
I)加濕水源：電阻率不低于500Ωm
J)電源：220±22V 、380±38V、50±0.5Hz
2)負(fù)載要求：
A)負(fù)載品種：一般可用電工、電子產(chǎn)品或其它產(chǎn)品、零部件及絕緣材料等(鹽霧試驗(yàn)除外)
B)負(fù)載條件：
-------負(fù)載總質(zhì)量：50~80Kg/m3
-------負(fù)載總體積：不大于工作室容積的1/5
-------阻擋主風(fēng)道總面積：不大于主風(fēng)道所處工作室截面積的1/3
-------鹽霧試驗(yàn)設(shè)備：規(guī)格：50＊100＊(1~2)mm
-------種類：金屬
-------樣品數(shù)：160塊/m2(工作室水平面面積計(jì))
三、 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)(氣候試驗(yàn)設(shè)備)
1、現(xiàn)行環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)共有六項(xiàng)：
GB/T5170.2----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.5----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.8----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.9----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.10---1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.11---1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備
2、方法標(biāo)準(zhǔn)的幾個(gè)共同問題
1)標(biāo)準(zhǔn)適用范圍：在六項(xiàng)方法標(biāo)準(zhǔn)中明確規(guī)定了該類標(biāo)準(zhǔn)是環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備在進(jìn)行周期檢定時(shí)檢定項(xiàng)目的確定，檢測儀器的選用，以及檢定條件、測試點(diǎn)數(shù)量、布點(diǎn)位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容的執(zhí)行依據(jù)。
2)適應(yīng)性：按方法標(biāo)準(zhǔn)檢測合格的設(shè)備，可在規(guī)定期限內(nèi)繼續(xù)進(jìn)行相關(guān)的環(huán)境試驗(yàn)。
3)操作性：本類標(biāo)準(zhǔn)在環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備使用單位應(yīng)用居多，試驗(yàn)設(shè)備生產(chǎn)廠應(yīng)用為少。
3、貫徹執(zhí)行過程中的幾個(gè)注意點(diǎn)：
1)各分標(biāo)準(zhǔn)使用時(shí)應(yīng)與總則一起使用。
2)對于復(fù)合試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定要若干分標(biāo)準(zhǔn)及總則一起使用
3)檢定條件：由總則規(guī)定，其內(nèi)容與設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)相一致。
4)負(fù)載要求：由總則規(guī)定，其內(nèi)容按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)GB11158中規(guī)定保持一致。
四、設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)與檢定方法標(biāo)準(zhǔn)差異辨析
有三項(xiàng)要求(鹽霧試驗(yàn)箱例外)
按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)GB11158中的規(guī)定
檢驗(yàn)項(xiàng)目：對生產(chǎn)好的產(chǎn)品進(jìn)行綜合性能檢驗(yàn)(包括標(biāo)志、包裝、儲(chǔ)存)
按試驗(yàn)方法要求對試驗(yàn)設(shè)備進(jìn)行檢驗(yàn)
受檢對象：
生產(chǎn)線上裝配、調(diào)試完成后的產(chǎn)品，外形、結(jié)構(gòu)、標(biāo)志完好控制系統(tǒng)無明顯缺陷、控制精度符合要求**裝置功能正常
檢驗(yàn)類型：
型式檢驗(yàn)、出廠檢驗(yàn)、仲裁檢周期檢驗(yàn)
檢驗(yàn)結(jié)果分類：
合格、不合格、批合格、批不合格
合格、準(zhǔn)用、停用
結(jié)果處理：
合格出廠、不合格不準(zhǔn)出廠批不合格、逐臺檢驗(yàn)質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)，合格續(xù)產(chǎn)不合格停產(chǎn)整頓
合格—發(fā)合格證(或部分合格限使用范圍)
準(zhǔn)用—發(fā)準(zhǔn)用證
停用—發(fā)停用證
五、設(shè)備極其參數(shù)檢定標(biāo)準(zhǔn)與試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)的對應(yīng)選擇
1、根據(jù)受試產(chǎn)品規(guī)定的試驗(yàn)方法確定環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的種類，現(xiàn)行設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)是一種產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)對應(yīng)一類設(shè)備，可作多種試驗(yàn)的復(fù)合試驗(yàn)箱需執(zhí)行多個(gè)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)。
2、根據(jù)試驗(yàn)方法要求，對設(shè)備進(jìn)行周期檢定時(shí)，可選用一個(gè)或多個(gè)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)對試驗(yàn)設(shè)備進(jìn)行檢定。
3、幾種常用的不同試驗(yàn)方法所需設(shè)備的檢定方法標(biāo)準(zhǔn)
GB2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫
GB5170.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB2423.電工電子產(chǎn)品環(huán)境第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫
GB2423.22電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法
GB2423.3電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ca：恒定濕熱
GB5170.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備
GB2423.4電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db：交變濕熱
GB2423.9電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cb：設(shè)備用恒定濕熱
GB2423.16電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)J：長霉
GB2423.17電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ka：鹽霧
GB5170.8電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備
GB2423.18電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Kb：交變鹽霧
GB2423.19電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法 Kc：接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)
GB5170.11電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法
腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備
GB2423.20電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法 Kd：接觸點(diǎn)和連接件硫件氫試驗(yàn)方法
六、 進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)過程中的幾個(gè)注意點(diǎn)
1、合理選擇設(shè)備溫濕度范圍及控制精度
2、注意受試品的體積、重量及擋風(fēng)橫截對設(shè)備主性能的影響
3、設(shè)備安置場所環(huán)境條件
4、適當(dāng)選擇試驗(yàn)的嚴(yán)酷度
七、 結(jié)束語
通過對環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)及電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)的初步分析，兩類標(biāo)準(zhǔn)各自有其獨(dú)立性，但相互之間又具有一定的關(guān)聯(lián)性。因此，準(zhǔn)確理解兩類標(biāo)準(zhǔn)的適用范圍，熟悉兩類標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)內(nèi)容的根本差異，是我們準(zhǔn)確貫徹、切實(shí)執(zhí)行兩類標(biāo)準(zhǔn)的前提。愿我們在今后的事業(yè)中為貫徹執(zhí)行好這兩類標(biāo)準(zhǔn)而共同努力。
